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AFM Spitzen

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Eckdaten

Angebotsfrist

Laut Quelle: 2026-09-04T14:00:00+02:00

Auftraggeber

Fraunhofer ENAS

Art des Auftraggebers
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
Verfahrensart
Unbekannt — die Angabe der Quelle war nicht auswertbar
Veröffentlicht
Geschätzter Auftragswert
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
Vertragsbeginn
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
Vertragsende
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
Rahmenvereinbarung
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
Sprache der Bekanntmachung
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe

Beschreibung

Beschreibung der Leistung

Wir sind das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS. Unser Kerngeschäft ist die Entwicklung von Smart Systems - sogenannten intelligenten Systemen für verschiedenartige Anwendungen. Die Systeme verbinden Elektronikkomponenten, Mikro- und Nanosensoren und -aktoren mit Schnittstellen zur Kommunikation. Fraunhofer ENAS entwickelt Einzelkomponenten, die Technologien für deren Fertigung aber auch Systemkonzepte und Systemintegrationstechnologien und überführt sie in die praktische Nutzung. Ein sehr wichtiger Teil hierbei ist die Oberflächencharakterisierung von Wafern während der Prozessierung. Hierfür werden AFM Spitzen für das Bruker InsightCAP AFM im Labor 320 benötigt und sollen mit dieser Ausschreibung beschafft werden. AFM Spitzen

Einordnung

CPV-Codes
Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
NUTS-Codes
  • DED
Erfüllungsort
  • 09126 Chemnitz · DED · DE

Lose

Aufteilung in Lose

  • Los 1 · LOT-0000

    Titel

    AFM Spitzen

    Beschreibung

    Wir sind das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS. Unser Kerngeschäft ist die Entwicklung von Smart Systems - sogenannten intelligenten Systemen für verschiedenartige Anwendungen. Die Systeme verbinden Elektronikkomponenten, Mikro- und Nanosensoren und -aktoren mit Schnittstellen zur Kommunikation. Fraunhofer ENAS entwickelt Einzelkomponenten, die Technologien für deren Fertigung aber auch Systemkonzepte und Systemintegrationstechnologien und überführt sie in die praktische Nutzung. Ein sehr wichtiger Teil hierbei ist die Oberflächencharakterisierung von Wafern während der Prozessierung. Hierfür werden AFM Spitzen für das Bruker InsightCAP AFM im Labor 320 benötigt und sollen mit dieser Ausschreibung beschafft werden. AFM Spitzen

    CPV-Codes
    Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe
    NUTS-Codes
    • DED
    Geschätzter Wert
    Unbekannt — die Quelle macht dazu keine Angabe

Unterlagen der Quelle

Verlinkte Dokumente

Quelle

Diese Bekanntmachung stammt von Bekanntmachungsservice (oeffentlichevergabe.de). Kennung der Quelle: 25742078.

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